高频LCR数字电桥TH2826/TH2826A系列

性能特点
	■ 国内首台符合LXI标准的LCR表
	■ 测试频率20Hz～5MHz，10mHz步进
	■ 测试电平10mV～5V, 1mV步进
	■ 基本准确度0.1%
	■ 较高达200次/s的测量速度
	■ 320×240点阵大型图形LCD显示
	■ 五位读数分辨率
	■ 可测量22种阻抗参数组合
	■ 四种信号源输出阻抗
	■ 10点列表扫描测试功能
	■ 内部自带直流偏置源
	■ 外置偏流源至40A(配置两台TH1776)(选件)
	■ 电压或电流的自动电平调整(ALC)功能
	■ V、I测试信号电平监视功能
	■ 图形扫描分析功能
	■ 20组内部仪器设定可供储存/读取
	■ 内建比较器,10档分选及计数功能
	■ 多种通讯接口方便用户联机使用
	■ 2m/4m测试电缆扩展(选件)
	■ 中英文可选操作界面
	■ 可通过USB HOST 自动升级仪器工作程序
简要介绍
	■ TH2826系列元件测试仪是国内首台符合LXI标准的新一代阻抗测试仪器，其0.1%的基本精度、20Hz～5MHz的频率范围可以满足元件与材料绝大部分低压参数的测量要求，可广泛应用于诸如传声器、谐振器、电感器、陶瓷电容器、液晶显示器、变容二极管、变压器等进行诸多电气性能的分析及低ESR电容器和高Q电感器的测量。
	■ TH2826系列产品**高速的测试速度使其特别适用于自动生产线的点检机，压电器件的频率响应曲线分析等等。其多种输出阻抗模式可以适应各个电感变压器厂家的不同标准需求。
	■ TH2826系列产品以其**的性能可以实现商业标准和*标准如IEC和MIL标准的各种测试。
 
广泛的测量对象
无源元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。
半导体元件：变容二极管的C-VDC特性；晶体管或集成电路的寄生参数分析
其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估
介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
半导体材料：半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性
液晶材料：液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性
测试参数	C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR 
测试频率	TH2826 	20 Hz～5MHz,10mHz步进
	TH2826A 	20 Hz～2MHz,10mHz步进
测试信号电	f≤1MHz 	10mV～5V,±（10%+10mV） 
平	f>1MHz 	10mV～1V,±（20%+10mV) 
输出阻抗	10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω 
基本准确度	0.1% 
	L 	0.0001 uH ～ 9.9999kH 
	C 	0.0001 pF ～ 9.9999F 
	R,X,Z,DCR 	0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ 
显示范围	Y, B, G 	0.0001 nS ～ 99.999 S 
	D 	0.0001 ～ 9.9999 
	Q 	0.0001 ～ 99999 
	θ 	-179.99°～ 179.99° 
测量速度	快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz） 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s
校准功能	开路 / 短路点频、扫频清零，负载校准
等效方式	串联方式, 并联方式
量程方式	自动, 保持
显示方式	直读, Δ, Δ% 
触发方式	内部, 手动, 外部, 总线
内部直流偏	电压模式	-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进
置源	电流模式（内阻为50Ω）	-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进
比较器功能	10档分选及计数功能
显示器	320×240点阵图形LCD显示
存储器	可保存20组仪器设定值
	USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) 
	USB HOST(FAT16 and FAT32 support) 
接口	LAN(LXI class C support) 
	RS232C 
	HANDLER 
	GPIB（选件）